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Crossbeam系列电子显微镜
    发布时间: 2010-03-05 13:56    
Crossbeam 开放式编程接口能让您访问几乎所有的显微镜参数。
通过系统 PC 或远程工作站上的用户自定义程序来完全控制电子和离子光学器件、载物台、真空系统、探测器及扫描与图像采集
Crossbeam系列电子显微镜

利用远程应用程序接口定制蔡司 Crossbeam 工作站

Crossbeam 开放式编程接口能让您访问几乎所有的显微镜参数。
通过系统 PC 或远程工作站上的用户自定义程序来完全控制电子和离子光学器件、载物台、真空系统、探测器及扫描与图像采集。

在更短时间内收集更丰富的信息

  • 加快纳米断层成像和纳米加工的速度:将低电压 SEM 性能与高达 100 nA 的 FIB 束流相结合。
  • 获取最丰富的信息:运用多探测器采集及同步刻蚀与成像能力。
  • 使用 GEMINI 技术和可选配的 ATLAS 3D 软件包检测高达 50 k x 40 k 像素的大视野范围。 

全方位流程控制

  • 在对环境条件要求苛刻的长时间实验中具备最高稳定性,并能够提供均匀一致的光束剖面。
  • 采集时可以完成系统参数的实时更改,如探针电流或加速电压,而无需对图像进行调整。
  • 图形用户界面操作直观简便。

具有最高灵活度

  • 通过选用大量的探测器和附件实现系统快速升级。
  • 针对不同的原位实验来定制您的系统。
  • 开放应用程序接口(API)能让用户访问每个显微镜参数。

配有 GEMINI I VP 镜筒的 Crossbeam 340

  • 在多用途环境下实现最大样品灵活性。
  • 执行放气或充电样品的的原位实验。
  • 可选配的 Inlens Duo 探测器能够提供独一无二的 GEMINI 材料衬度。

配有 GEMINI II 镜筒的 Crossbeam 540

  • 配有双聚光镜系统,即便在低电压和高束流下仍能提供高分辨率。
  • 借助高分辨率成像和快速分析在更短时间内获取更丰富的信息。
  • 同步 Inlens SE 和 EsB 成像可以提供独特的形貌和材料衬度。

执行材料烧蚀与加工

借助可选激光组件升级 Crossbeam 系统来获得最快速的大规模烧蚀技术。与高束流 FIB 组合,实现从毫米级到纳米级的功能结构加工,如微流体装置和微电子机械系统。

为后续加工任务提供更深层次的信息,或者加工会因机械制备引起脏污、分层或压缩的柔软样品。借助 Crossbeam 和激光选件,在无缝集成的单台系统内执行材料烧蚀与加工。

利用远程应用程序接口定制蔡司 Crossbeam 工作站

Crossbeam 开放式编程接口能让您访问几乎所有的显微镜参数。
通过系统 PC 或远程工作站上的用户自定义程序来完全控制电子和离子光学器件、载物台、真空系统、探测器及扫描与图像采集。


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