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Xradia 800 Ultra X 射线显微镜
    发布时间: 2010-03-03 14:39    
拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜,您可以实现低至50 nm 的空间分辨率,这是业界实验室X射线成像系统最优的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用,您将会体验到无与伦比的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能,X射线能量为 8KeV,并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料随时间的演变(4D)中,可实现无与伦比的原位和4D性能,拓展了3D X射线成像技术在材料科学,生命科学,自然资源和各种工业应用领域的局限。
Xradia 800 Ultra X 射线显微镜

类同步辐射的实验室三维成像

拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜,您可以实现低至50 nm 的空间分辨率,这是业界实验室X射线成像系统最优的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用,您将会体验到无与伦比的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能,X射线能量为 8KeV,并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料随时间的演变(4D)中,可实现无与伦比的原位和4D性能,拓展了3D X射线成像技术在材料科学,生命科学,自然资源和各种工业应用领域的局限。

Xradia 800 Ultra 的最小分辨率低至50 nm,使微观结构和进程可视化,这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行,极佳的穿透力和衬度适合各种材料,使您可以观察自然状态下的结构和材料。

集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度,使未染色的超结构和纳米结构可视化。

蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术,提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。

无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像
在原位设备中样品成像保持低至 50nm 的高分辨率
用于断层扫描重构的图像自动调整功能
视野可在 15 至 60 μm 的范围内进行切换
吸收衬度和 Zernike 相位衬度成像模式
在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验,让有限的同步辐射时间更加有效率

材料科学
对于高级材料的开发:研究和预测材料特性和演变。表征复合材料,例如燃料电池,聚合物及复合材料的三维结构。测量和确定孔隙,裂缝,相位分布等。通过吸收衬度成像来区分密度不同的材料。

自然资源
石油与天然气钻井的可行性研究:进行虚拟岩心分析,缩短获得研究结果的时间。相比传统的岩心分析,测量地质样品的纳米孔结构只需要花费几个小时。使用 Ultra 系列显微镜进行流体模型纳米级分析以获得亚微米成像。

生命科学研究
Xradia 800 Ultra可提供生物样品如骨和软组织的微观组织结构,分辨率低至50纳米。具有优良的对比度,可对多种材料进行纳米级三维X射线成像,如应用于药物传递的聚合物、组织样品、用于组织工程的支架。

电子学
Xradia 800 Ultra为半导体样品的电子封装研究和开发提供可视化成像



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