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Millitrac颗粒图像分析仪
Millitrac颗粒图像分析仪
发布时间: 2010-04-21 11:05
产品编号:
52517482416
产品名称:
颗粒图像分析仪
规 格:
Millitrac
产品备注:
原产地:美国
商品信息
产 品 说 明
技术参数
测量范围:90 - 13,200µm
测量技术:单色CCD图像分析技术
重复性:误差≤1.5%,分析精度:30通道
扫描速度:60循环/10秒
测量时间:1-9,999秒,用户可选
直接干粉进样分析,样品可回收
实时图像处理,操作直观方便
报告形式:体积/数量粒度分布,等效圆形面积直径,椭圆长短径比,椭圆长/短轴长,圆度等
主要特点
﹡
专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关)。
﹡
固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置,无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分
析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
﹡
首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库,
提高颗粒粒度分布测试的准确性。
﹡
系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
﹡
多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致。
﹡
现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要。
﹡
数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告
形式任意组合,数据存储兼容性强。
﹡
NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。
仪器介绍
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理,利用现代模块式设计理念,使用获得专利的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统,以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选,干法与湿法测量之间的转换,系统自动识别,方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析-激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要求,并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。
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