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Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪
    发布时间: 2010-04-21 11:02    
产品编号：
5251753016
产品名称：
纳米/Zeta电位分析仪
规　　格：
Zetatrac
产品备注：
原产地：美国
Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪
  产 品 说 明
技术参数
粒度范围：0.8纳米－ 6.5微米 
Zeta 电位测量：+/- 5mv 
电泳迁移：+/- 0.4 μs/volt/cm 
重复性：误差小于1%（标准颗粒） 
测量原理：动态光背散射技术及米氏理论 
专利技术：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纤光路设计，“非球形”颗粒校正选项，微电场设计技术 
检测角度：180º 
浓度范围：0.1ppm – 40wt% 
分析时间：30-120 秒 
光源：3mW 780nm 半导体光纤 
样品体积：0.2ml 
操作软件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 
国际标准：ISO 13321 
环境温度：10ºC to 35ºC 
相对湿度：小于90%

 主要特点
﹡ 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术，比较传统的多谱勒频 
移分析方法，获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性 
﹡ 专利的可控参比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精细分析多谱勒频移产生的能 
谱，确保分析的灵敏度 
﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，避免了多重散射现象，保证高浓度溶液中纳米颗粒测 
试的准确性 
﹡ 先进的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，有效消除杂散光对检测器的负面影响 

﹡ 专利的快速傅利叶变换算法(FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速处理检 
测系统获得的光谱，缩短分析时间 
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素，内置常用分析物质光学数据库，提 
高颗粒粒度分布测试的准确性 
﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准－纳米分析部分 
﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准 

 仪器介绍
30多年来，Microtrac 公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，纳米颗粒分析仪器，NPA首次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念，利用
背散射(Back-scattered)和异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术
，结合动态光散射理论和先进的数学处理模型，取代传统的光子相关光谱(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法，将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。随着技术的发展，Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器，快速分析高浓度的纳米颗粒，生化材料及胶体体系成为现实，成为众多行业纳米分析的参考仪器。  
应用领域：  
有机聚和物和高分子研究，纳米金属和其他纳米无机物，结晶分析，表面活性剂胶束大小，蛋白质，甾体，DNA，RNA，极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。 
​产品类别